Misure di densità spettrale di rumore in dispositivi CMOS da 110 nm

L’esperimento Arcadia, finanziato dall’INFN, si pone come obiettivo lo sviluppo di un sensore monolitico con substrato completamente svuotato a bassa potenza dissipata da utilizzare in diverse applicazioni: in fisica delle alte energie, in astrofisica, nella strumentazione radiodiagnostica in medicina e nella rivelazione di raggi X presso le sorgenti di luce di sincrotrone o quelle basate su laser a elettroni liberi. Il gruppo di Sttrumentazione Elettronica si sta occupando della caratterizzazione della tecnologia CMOS da 110 nm utilizzata per la realizzazione del sensore. A questo scopo è stato porgettato e realizzato un chip di test contenente dispositivi NMOS e PMOS con diverse lunghezze e larghezze di canale. I dispositivi, già caratterizzati sotto il profilo delle proprietà statiche e di segnale, verranno carratterizzati dal punto di vista del rumore, misure per le quali uno stadio di amplificazione, che funge da interfaccia tra il dispositivo sotto misura e ne consente la poralizzazione, è stato appositamente sviluppato.